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  • 服务各称:Helios 450S FIB集焦铁离子束
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FIB(Focused Ion Beam,整合阴阳化合物束)是将阴阳化合物源(如镓)有的阴阳化合物束进行阴阳化合物枪加快和提升,并充分利用电透镜整合成异常小尺寸(nm级)的显微分割检测设备。能够 完成微、nm级绝对误差的外表形貌代加工。一般是会安装高辩认的扫苗电镜(SEM),应用在分割部位的市场定位及优质受力的显像,也正是常说的双束FIB。

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